1.  Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза. — ББК 22.344Издательство: Москва : Мир, 1987Физическая характеристика: 598 с. : ил. ; 22 см

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: