Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза

Автор(ы): Бриггс, Д.;
                   Сих, М. П.;
                   Раховский, В. И.;
                   Рез, Иосиф СоломоновичЯзык документа: Русский ; of original work,Английский.Страна публикации: RU.Издательство: Москва : Мир, 1987Физическая характеристика: 598 с. : ил. ; 22 смББК: 22.344Наименование темы, используемое как предмет: ФИЗИКА | ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ | РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ | ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ | СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ | ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Книги, брошюры Книги, брошюры
Витебская областная библиотека. Отдел хранения основного фонда
Выдается

3800 экз.

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: