Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Дж. Спенс ; пер. с англ. под ред. [и с предисл.] В. Н. Рожанского

Автор(ы): Спенс, Джон;
                   Рожанский, В. Н.Язык документа: Русский ; of original work,Английский.Страна публикации: RU.Издательство: Москва : Наука, 1986Физическая характеристика: 320 с. : ил. ; 22 смББК: 22.338.4Наименование темы, используемое как предмет: ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ | ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ | ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ | ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА | ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ПОЛЯ | ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ | ЭЛЕКТРОМАГНЕТИЗМ | ФИЗИКА | ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Книги, брошюры Книги, брошюры
Витебская областная библиотека. Отдел хранения основного фонда
Выдается

2600 экз.

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: