Анализ нанотопографии поверхностей и локальных физико-механических свойств материалов с помощью атомно-силового микроскопа на базе камертонного датчика : автореферат дис. : 01.04.07 - Физика конденсированного состояния : 01.04.01 - Приборы и методы экспериментальной физики / Во Тхань Тунг
Автор(ы): Во, Тхань ТунгЯзык документа: Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Мн. : Бел. гос. ун-т, 2009Физическая характеристика: 23 с.ББК: 01.04.07 - Физика конденсированного состояния*01.04.01 - Приборы и методы экспериментальной физики ; 22.342.9 ; 31.05.35Предметная категория: Белорусский национальный документ
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
Нет никаких комментариев для этого документа.