000 01763cam0 2200397 ib4500
001 BY-VI0000-br30656116
005 20201112120210.0
010 ^d6 р. 40 к.
100 ^a20201109d1987 u y0rusy50 ca
101 0 ^arus
^ceng
102 ^aRU
105 ^aa z 000 y
109 ^aaa
200 1 ^aАнализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
^fпод ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха
^gпер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза
210 ^aМосква
^cМир
^d1987
215 ^a598 с.
^cил.
^d22 см
345 ^93800 экз.
606 ^aФИЗИКА
^3BY-NLB-ar35837
^2DVNLB
606 ^aФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ
^3BY-NLB-ar35853
^2DVNLB
606 ^aРЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
^3BY-NLB-ar2739324
^2DVNLB
606 ^aОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ
^3BY-NLB-ar56685
^2DVNLB
606 ^aСПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
^3BY-NLB-ar1787604
^2DVNLB
606 ^aПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ
^3BY-NLB-ar23916
^2DVNLB
610 0 ^aФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ
686 ^a22.344
^2rubbk
690 ^a1
^2Base
^9BY-VI0000
^xRSEK
702 1 ^aБриггс
^bД.
^3BY-CNB-a332100
^4340
702 1 ^aСих
^bМ. П.
^3BY-CNB-a332099
^4340
702 1 ^aРаховский
^bВ. И.
^4340
702 1 ^aРез
^bИ. С.
^gИосиф Соломонович
^3BY-CNB-a297010
^4340
801 0 ^aBY
^bBY-VI0000
^c20201109
^gRCR
035 ^a(BY-VI0000)BY-VI0000-br30656116
899 0 ^aBY-VI0000
^iА 64