000 02147cam0 22004571ia4500
001 BY-VI0000-br638263
005 20211209104755.0
100 ^a20101201d2007 y0rusy50 ca
101 0 ^arus
102 ^aBY
109 ^aac
^aaa
200 1 ^aАвтоматический контроль топологии субмикронных планарных структур в производстве изделий микроэлектроники
^eавтореферат дис.
^e05.27.06 - Технология и оборуд. для пр-ва полупровод. материалов и приборов электронной техники
^fС.М. Аваков
210 ^aМн.
^cУО "БГУ ИР"
^d2007
215 ^a42 с.
610 0 ^aМИКРОЭЛЕКТРОНИКА
610 0 ^aТОПОЛОГИЯ
610 0 ^aФОТОШАБЛОН
610 0 ^aАВТОМАТИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ
610 0 ^aСУБМИКРОННЫЕ СТРУКТУРЫ
610 0 ^aСУБПИКСЕЛЬНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ
610 0 ^aФОТОЛИТОГРАФИЯ
610 0 ^aПРОИЗВОДСТВО ИЗДЕЛИЙ
610 0 ^aМIКРАЭЛЕКТРОНIКА
610 0 ^aТАПАЛОГIЯ
610 0 ^aФОТАШАБЛОН
610 0 ^aАЎТАМАТЫЧНЫ КАНТРОЛЬ
610 0 ^aСУБПІКСЕЛЬНЫ ДАЗВОЛ
610 0 ^aФОТАЛІТАГРАФІЯ
610 0 ^aВЫТВОРЧАСЦЬ ВЫРАБАЎ
615 ^3BY-SEK-ar1826174
^aБелорусский национальный документ
686 ^a05.27.06 - Технология и оборуд. для пр-ва полупровод. материалов и приборов электронной техники
^2nsnrrb
686 ^a32.844.1
^v2
^2rubbk
686 ^a47.33.37
^v4
^2rugasnti
690 ^a2
^2Base
^9BY-VI0000
^xRSEK
700 1 ^aАваков
^bС. М.
801 0 ^aBY
^bBY-VI0000
^c20101201
^gpsbo
801 2 ^aBY
^bBY-VI0000
^c20190703
^gpsbo
899 ^aBY-VI0000
^h32.844.1
^iА18
035 ^a(BY-VI0000)BY-VI0000-br638263